ls 13 320

Определение размера частиц

Методы анализа частиц — для определения размера частиц существуют такие методы как : ситовой, седиментационный, микроскопия и лазерная дифракция. Каждый из данных методов измеряют частицу с разными параметрами, поэтому результаты будут сильно отличатся в ходе измерений.

Самым традиционным методом дисперсионного анализа является седиментационный метод. Чаще всего его используют в лакокрасочной промышленности. Результаты полученные данным методом крайне не точны. Поэтому производители которые требуют достоверную информацию не могут получить точных значений так как данная методика всего лишь позволяет проводить точные измерения в узком диапазоне (от 2 до 15 мкм). Существует наиболее точный метод измерения частиц используемый в лакокрасочный отрасли который мы рассмотрим ниже.

Микроскопия. В микроскоп можно видеть сами частицы, их форму, размеры. Этим методом можно судить о качестве дисперсии и о присутствии в ней агломератов.

Лазерная дифракция.(Low Angel Laser Light Scattering (LALLS)). Применяют во многих промышленных отраслях, наиболее распространенная методика для фармпредприятий, лакокрасочных заводов (порошковые краски), абразивные заводы, заводы по производству зубной пасты.

Наша компания ООО “АКВААНАЛИТИК” предлагает наиболее точное оборудование с широким диапазоном измерений размеров частиц в различных средах.

Вашему вниманию LS 13 320 XR.

Particle-Characterization-LS-13-320-XR-Full-View-2018-01

 

 

 

 

 

 

 

 

LS 13 320 XR выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Усовершенствованная технология PIDS и расширенный диапазон измерений обеспечивают более высокое разрешение, а также более точные и воспроизводимые результаты. Вы можете анализировать более широкий спектр частиц и обнаруживать менее заметные различия в образцах быстрее и достовернее.

Детали имеют значение. Небольшие изменения в составе образца могут привести к значительной модификации готового продукта. Поэтому для более высокого разрешения и точных результатов в лазерном дифракционном анализаторе LS 13 320 XR установлено 132 детектора, которые совместно обеспечивают расширенный диапазон измерений от 10 нм до 3 000 мкм.

ОСНОВНЫЕ ПРЕИМУЩЕСТВА

Расширенный диапазон измерений: 10 нм – 3 000 мкм
Реальные (не экстраполированные) аналитические данные вплоть до 10 нм, измерения с высоким разрешением вплоть до 3 000 мкм.

Усовершенствованная технология PIDS:дифференциальное рассеяние поляризованного света обеспечивает более высокую точность первичных данных и повышенную чувствительность детектора к вертикально и горизонтально поляризованному рассеянному свету для анализа частиц субмикронных размеров. Недоступное
ранее качество измерений.

Усовершенствованная автомодальность. Для получения правильных результатов не нужна предварительная информация о распределении частиц по размерам (например, количество фракций и пределы диапазона размеров).

Оптимизированное, интуитивное ПО:
• Настройка измерений за 2 клика
• Встроенная база оптических констант
• Пользовательская диагностика
• Рационализация рабочего процесса для экономии времени

ВАЛИДАЦИЯ
Это обязательная процедура в рамках надлежащей производственной практики (GMP) и других нормативных требований. Анализатор LS 13 320 XR располагает специальными инструментами для инсталяционной (IQ) и операционной (OQ) валидации.

ТЕХНОЛОГИЯ PIDS
Технология регистрации дифференциального рассеяния поляризованного света (PIDS) позволяет анализировать не только частицы размером 10 нм, но и многомодальные фракции в субмикронном диапазоне.

Добавить комментарий

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *