Particle-Characterization-LS-13-320-XR-Full-View-2018-01

LS 13 320 XR выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Усовершенствованная технология PIDS и расширенный диапазон измерений обеспечивают более высокое разрешение, а также более точные и воспроизводимые результаты. Вы можете анализировать более широкий спектр частиц и обнаруживать менее заметные различия в образцах быстрее и достовернее. Новое ПО и интуитивно понятный интерфейс помогают получить нужные данные за несколько кликов.

Расширенный диапазон измерений: 10 нм – 3,500 мкм
Реальные (не экстраполированные) аналитические данные
вплоть до 10 нм, измерения с высоким разрешением
вплоть до 3,500 мкм.

Усовершенствованная технология PIDS:
дифференциальное рассеяние поляризованного света
Обеспечивает более высокую точность первичных данных
и повышенную чувствительность детектора к вертикально
и горизонтально поляризованному рассеянному свету
для анализа частиц субмикронных размеров. Недоступное
ранее качество измерений.

Усовершенствованная автомодальность
Для получения правильных результатов не нужна
предварительная информация о распределении частиц
по размерам (например, количество фракций
и пределы диапазона размеров)

Оптимизированное, интуитивное ПО
• Настройка измерений за 2 клика
• Встроенная база оптических констант
• Пользовательская диагностика
• Рационализация рабочего процесса для экономии времени

БЫСТРОЕ НАЧАЛО ИЗМЕРЕНИЙ
Для измерения после настройки метода
в ПО LS 13 320 XR требуется сделать всего 3 клика.
Выберите готовый метод, задайте Test-ID
и Group-ID и начните измерение.

САМОКОНТРОЛЬ РЕЗУЛЬТАТОВ
Во время измерения прибор
проводит самодиагностику
и информирует о результатах.

АВТОМАТИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА (QC)
ПО автоматически выделяет результаты измерений
зеленым или красным цветом в зависимости от того,
лежат ли они или не лежат в пределах требуемых
спецификаций. Это позволяет операторам любого
уровня подготовки быстро реагировать на результаты QC.

Технология регистрации дифференциального рассеяния поляризованного света (PIDS) позволяет анализировать не только частицы размером 10 нм, но и многомодальные фракции в субмикронном диапазоне.

Технология - Прямое светорассеяние под малыми углами, дополняемое технологией PIDS (Дифференциальное рассеяние поляризованного света). Анализ вертикально и горизонтально поляризованного света под 6 углами при 3 дополнительных длинах волн. Применение теорий Фраунгофера и Ми в полном объеме.

Источник света - Дифракция: Лазерный диод (785 нм) PIDS: лампа накаливания с высококачественными полосовыми фильтрами (475, 613 и 900 нм)

Диапазон размеров частиц - 10 нм – 3,500 мкм Модуль для работы с порошками (DPS): 400 нм - 3,500 мкм Универсальный жидкостной модуль (ULM): 10 нм - 2,000 мкм

Интерфейс подключения - USB

Энергопотребление - ≤ 3 А при 220 - 240 В перем. тока

Температура - 10 - 40°C

Влажность - 0 - 90% без конденсации

Соответствие - 21 CFR Часть 11
RoHS
Сертификаты:
- Директива ЕС 2014/30/EU об электромагнитной совместимости
- CISPR 11:2009/A1:2010

Формат экспортных файлов - XLSX, TSV, PDF

Импорт файлов - Из всех систем LS 13 320 и LS 13 320 XR

Операционная система ПО - Microsoft Windows 10

Размеры - Высота: 49,53 см
Ширина: 93,98 см
Глубина: 25,40 см

Вес - 23,5 кг

B98100 - Многоволновый анализатор LS 13 320 XR
B98103 - Модуль для работы с порошками (DPS)
B98105 - Универсальный жидкостной модуль (ULM)
B95435 - Соникатор для ULM
899912763 - Ваккумный насос
C20930 - Рабочая станция (c ОС W10 и ПО LS13 320 XR)